Digitale Schaltungen bestimmen das „Innenleben“ von elektronischen Systemen wie beispielsweise Computerchips und müssen aufwändig getestet werden, um eine korrekte Funktionsweise gewährleisten zu können. Fehlerhafte Chips werden auf diese Weise aussortiert, bevor die Schaltungen später in der Anwendung versagen und dabei erheblichen Schaden verursachen können. Diese unverzichtbaren Testverfahren machen bislang bis zu 50 Prozent der Herstellungskosten eines Chips aus. Zusammen mit der steigenden Komplexität der Schaltungen steigt allerdings auch der Aufwand für Produktionstests stetig an. Das von den Bremer Forschern entwickelte Verfahren zur Testgenerierung ermöglicht jetzt, die Testmenge bei gleichbleibender Qualität signifikant zu verringern und damit die Testkosten zu senken. Anders als bisher im industriellen Einsatz üblich basiert das entwickelte Verfahren auf formalen statt strukturellen Methoden.
Das hat die Konferenz ICCAD, an der in diesem Jahr 375 Wissenschaftler teilnehmen, nun mit ihrem „William J. McCalla Award“ für den besten wissenschaftlichen Beitrag honoriert. Die Konferenz widmet sich bereits seit 32 Jahren den Innovationen im Entwurf von digitalen Schaltungen und Systemen. Die Auszeichnung wird seit 2002 für herausragende Forschungsergebnisse verliehen und ist mit 6.000 US-Dollar dotiert. Bislang erhielten sie fast ausnahmslos Wissenschaftler US-amerikanischer Spitzen-Universitäten.
Der Entwurf von cyber-physikalischen Systemen ist ein Schwerpunkt des gleichnamigen DFKI-Forschungsbereichs sowie der AG Rechnerarchitektur an der Universität Bremen. Informatiker arbeiten hier an der Weiterentwicklung von Entwurfsmethoden, die die Zuverlässigkeit und Qualität von digitalen Schaltungen, deren Komplexität und Einsatzmöglichkeiten in Endgeräten stetig steigen, gewährleisten.
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