Eingebettete Intelligenz

PUBLIKATIONEN

In: 34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2022) February 27-March 1 Bremerhaven Germany 2022.

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In: 40th IEEE VLSI Test Symposium (VTS). IEEE VLSI Test Symposium (VTS-2022) April 25-27 San Diego United States 2022.

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In: IEEE European Test Symposium (ETS). IEEE European Test Symposium (ETS-27) May 23-27 Barcelona Spain 2022.

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In: The Genetic and Evolutionary Computation Conference (GECCO). Genetic and Evolutionary Computation Conference (GECCO-2021) July 10-14 Lille/Virtual France 2021.

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In: Proceedings of the 34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT-2021) October 6-8 Athens/Virtual Greece 2021.

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In: Genetic and Evolutionary Computation Conference (GECCO). Genetic and Evolutionary Computation Conference (GECCO-2020) July 8-12 Cancun Mexico 2020.

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Kontakt

Sekretariat:
Jane Bensch, B.A.
Tel.: +49 631 20575 4010

Deutsches Forschungszentrum für
Künstliche Intelligenz GmbH (DFKI)
Forschungsbereich Eingebettete Intelligenz
Trippstadter Str. 122
67663 Kaiserslautern
Deutschland

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German Research Center for Artificial Intelligence