Eingebettete Intelligenz

In: 34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2022) February 27-March 1 Bremerhaven Germany 2022.

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In: 40th IEEE VLSI Test Symposium (VTS). IEEE VLSI Test Symposium (VTS-2022) April 25-27 San Diego United States 2022.

In: IEEE European Test Symposium (ETS). IEEE European Test Symposium (ETS-27) May 23-27 Barcelona Spain 2022.

In: Dr. M. Hashimoto (Hrsg.). Microelectronics Reliability Seiten 01-11 Elsevier 2022.

In: Lutz Mädler, Claudia Sobich. Schule in Farbigen Zuständen - Lernmodule für den 5. Jahrgang. Seiten 37-82 OpenAccess 2022.

In: 33. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2021) February 21-23 Nordhausen Germany 2021.

In: Workshop on Interdependent Challenges of Reliability, Security and Quality (RESCUE). Workshop on Interdependent Challenges of Reliability, Security and Quality (RESCUE-2021) befindet sich Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 2021) February 1-5 Grenoble France 2021.

ISBN 978-3-030-69208-7 Springer 2021.

In: 16th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS). International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS-2021) June 28-30 Apulia/Virtual Italy 2021.