Eingebettete Intelligenz

PUBLIKATIONEN

In: 34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2022) February 27-March 1 Bremerhaven Germany 2022.

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In: 34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2022) February 27-March 1 Bremerhaven Germany 2022.

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In: 40th IEEE VLSI Test Symposium (VTS). IEEE VLSI Test Symposium (VTS-2022) April 25-27 San Diego United States 2022.

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In: IEEE European Test Symposium (ETS). IEEE European Test Symposium (ETS-27) May 23-27 Barcelona Spain 2022.

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In: Lutz Mädler, Claudia Sobich. Schule in Farbigen Zuständen - Lernmodule für den 5. Jahrgang. Seiten 37-82 OpenAccess 2022.

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In: 33. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2021) February 21-23 Nordhausen Germany 2021.

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In: Workshop on Interdependent Challenges of Reliability, Security and Quality (RESCUE). Workshop on Interdependent Challenges of Reliability, Security and Quality (RESCUE-2021) befindet sich Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE 2021) February 1-5 Grenoble France 2021.

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In: 16th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS). International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS-2021) June 28-30 Apulia/Virtual Italy 2021.

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Kontakt

Sekretariat:
Jane Bensch, B.A.
Tel.: +49 631 20575 4010

Deutsches Forschungszentrum für
Künstliche Intelligenz GmbH (DFKI)
Forschungsbereich Eingebettete Intelligenz
Trippstadter Str. 122
67663 Kaiserslautern
Deutschland

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German Research Center for Artificial Intelligence