In: 36. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2024), February 25-27, Darmstadt, Germany, 2024.
In: 35. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2023), February 26-28, Erfurt, Germany, 2023.
In: 36th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT-2023), October 3-5, Juan-Les-Pins, France, 2023.
In: 34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2022), February 27 - March 1, Bremerhaven, Germany, 2022.
In: 16th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS). International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS-2021), June 28-30, Apulia/Virtual, Italy, 2021.
In: 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 2020. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT-2020), ISBN 978-1-7281-9457-8, IEEE, 2020.