Barno Kaharova; Rico Komenda; Taras Holoyad; Adriano Lucieri; Robin Pekerman; Jackie Ma; Daniel Becker; Fabian Malms; Maximilian Poretschkin; Christopher Braun; Helena Monke; Paul Beyer; Dominik Eisl; Lukas Höhndorf; Nicole Schmidt; Matthias Hackert-Oschätzchen; Philipp Plänitz; Maik Liebl; Hans Rabus; Antoine Gautier; Manoj Kahdan; Simon Geschwill; Timo Felser; Annegrit Seyerlein-Klug; Marc Hauer
Deutsches Institut für Normung (DIN), DIN SPEC, Vol. 92006, 2/2026.
Detlef Olschewski; André Bluhm; Joerg Firnkorn; Adriano Lucieri; Sebastian Palacio; Yeji Streppel; Carlos Zednik; Rebekka Görge; Maximilian Poretschkin; Nikolas Becker; Thomas Zielke; Christian Kruschel; Matthias Neumann-Brosig; Stephen Bäuerle; Marton Eifert; Erik Martori López; Felix Assion; Annegrit Seyerlein-Klug; Ute Schmid; Stefan Haufe; Antoine Gautier; Lukas Bieringer; Tarek R. Besold; Armin B. Cremers
In: 2025 47th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC). International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC-2025), July 14-18, Copenhagen, Denmark, Pages 1-4, Vol. 2025, ISBN 979-8-3315-8618-8, IEEE Xplore, 7/2025.
In: Peng You; Yuhui Zheng (Hrsg.). Proceedings of International Conference on Image, Vision and Intelligent Systems 2024 (ICIVIS 2024). Pages 453-469, ISBN 978-981-96-2431-7, Springer Nature, 7/2025.
In: GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ). GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ-2026), February 22-24, Potsdam, Germany, 2026.